新型腦部檢測設(shè)備Lucid System經(jīng)FDA獲批上市

Lucid System是一種電池驅(qū)動的設(shè)備，該設(shè)備體積小巧，便于在醫(yī)院中迅速轉(zhuǎn)移應(yīng)用于緊急情況，同時這一設(shè)備能夠快速檢測患者腦部血流狀況以確定患者是否出現(xiàn)腦損傷從而加速治療進程。研究顯示，腦部血流異?？赡軙?dǎo)致多種腦部疾病問題包括嚴(yán)重的TBI等。在急救過程中，通過該設(shè)備來加速檢查速度則顯得尤為重要。
　　
   Lucid System是利用一種名為顱內(nèi)多普勒的超聲波來進行檢測，該設(shè)備可以通過確定顱內(nèi)超聲波的回聲信號強弱來判斷顱內(nèi)血流速度并進而確定腦部床上問題。
　　
   Lucid System是Neural Analytics公司首個上市產(chǎn)品。據(jù)統(tǒng)計美國每年有250萬人被診斷為TBI，這一設(shè)備被認(rèn)為有望能夠改善這些患者的治療情況。Neural Analytics今年九月份獲得了NIH總額300萬美元的資助用于研究該設(shè)備在臨床中的應(yīng)用。
　　
   腦部是人類最為精密的器官，輕微的損傷就會造成嚴(yán)重后果。創(chuàng)傷性腦損傷，也稱為腦損傷或頭部損傷，是由外傷引起的腦組織損害。腦損傷有兩種類型： 閉合性腦損傷是由于運動中的頭部遭到急停，如撞到擋風(fēng)玻璃或被鈍物撞擊，致使顱骨內(nèi)的腦髓拍擊堅硬的骨質(zhì)層。頭部未受到直接外傷，但在頭部快速前后運動時也會發(fā)生閉合性腦損傷。例如頸部過度屈伸，或者嬰兒受到搖動時。貫穿性腦損傷由快速移動的物體，如子彈，穿透顱骨所致。閉合性腦損傷和貫穿性腦損傷都可能造成大腦局灶性和彌漫性損害。許多腦損傷是輕微的，通常只要給予適當(dāng)?shù)淖⒁猓Y狀就會逐漸消失。而有些則較為嚴(yán)重，并可能造成永久性殘疾，如認(rèn)知缺陷、運動功能障礙、語言功能障礙等。